Die GOM ATOS Streifenlichtprojektion ist eine hochpräzise optische 3D-Messtechnologie, die für eine Vielzahl von industriellen Anwendungen eingesetzt wird. Diese fortschrittliche Technik nutzt strukturierte Lichtprojektionen, um dreidimensionale Punktwolken von Objekten zu erzeugen. Die daraus resultierenden Daten bieten eine detaillierte und präzise Darstellung der Oberflächengeometrie und ermöglichen eine umfassende Analyse und Qualitätssicherung.
Ein wesentlicher Anwendungsbereich der GOM ATOS Technologie ist der Soll-Ist Vergleich. Hierbei werden die erfassten 3D-Daten mit den CAD-Daten des Bauteils verglichen. Diese Methode erlaubt es, Abweichungen zwischen dem hergestellten Teil und dem CAD-Datensatz präzise zu identifizieren. Die Ergebnisse des Soll-Ist Vergleichs sind entscheidend für die Qualitätssicherung und Prozessoptimierung, da sie genaue Informationen über Maße, Formabweichungen und mögliche Produktionsfehler liefern.
Die GOM ATOS Streifenlichtprojektion spielt auch eine zentrale Rolle bei der Überprüfung von Form- und Lagetoleranzen im Rahmen des Erstmusterprüfberichts (EMPB). Diese Prüfung stellt sicher, dass Bauteile den festgelegten Toleranzen entsprechen und die Anforderungen an Maßhaltigkeit, Formgenauigkeit und Position erfüllen. Durch die hochauflösenden 3D-Daten kann die Einhaltung der geometrischen Produktspezifikationen effizient und zuverlässig kontrolliert werden.
Darüber hinaus ist die GOM ATOS Technologie ein unverzichtbares Werkzeug im Bereich des Reverse Engineering. Mit ihrer Fähigkeit, detaillierte 3D-Daten von bestehenden Bauteilen zu erfassen, ermöglicht sie die Rekonstruktion von CAD-Modellen. Dies ist besonders nützlich für die Entwicklung neuer Produkte, die Anpassung bestehender Designs und die Dokumentation komplexer Geometrien. Reverse Engineering mit GOM ATOS bietet die Möglichkeit, genaue digitale Zwillinge physischer Objekte zu erstellen, die als Basis für weitere Entwicklungs- und Produktionsprozesse dienen.
Prüfvolumen: 300x230mm (erweiterbar)
Arbeitsabstand: 440mm
Punktabstand: 0.12 mm
Zeiss Inspect
Angabe der Prüfmerkmal spezifischen Messunsicherheit nach ISO 15530
Distanz 200 ±25 μm
Durchmesser 100 ±20 μm
(Erweiterungsfaktor k=2)